Sistema automatizado de medición del espesor de flux en el ensamble de microprocesadores.
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| Autor: | |
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| Formato: | proyecto fin de carrera |
| Fecha de Publicación: | 2006 |
| Descripción: | Proyecto de Graduación (Licenciatura en Ingeniería Electrónica) Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ingeniería Electrónica, 2006. |
| País: | RepositorioTEC |
| Institución: | Instituto Tecnológico de Costa Rica |
| Repositorio: | RepositorioTEC |
| OAI Identifier: | oai:repositoriotec.tec.ac.cr:2238/287 |
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/2238/287 |
| Access Level: | acceso abierto |
| Palabra clave: | Automatización Interfaz gráfica Código de barras Potencia Bases de datos Amplificadores operacionales Medición de espesor GPBI Control de posición Motores Potenciómetro Labview Tarjeta de adquisición de datos ELEC |