Sistema automatizado de medición del espesor de flux en el ensamble de microprocesadores.
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Format: | proyecto fin de carrera |
Date de publication: | 2006 |
Description: | Proyecto de Graduación (Licenciatura en Ingeniería Electrónica) Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ingeniería Electrónica, 2006. |
Pays: | RepositorioTEC |
Institution: | Instituto Tecnológico de Costa Rica |
Repositorio: | RepositorioTEC |
OAI Identifier: | oai:repositoriotec.tec.ac.cr:2238/287 |
Accès en ligne: | https://hdl.handle.net/2238/287 |
Access Level: | acceso abierto |
Mots-clés: | Automatización Interfaz gráfica Código de barras Potencia Bases de datos Amplificadores operacionales Medición de espesor GPBI Control de posición Motores Potenciómetro Labview Tarjeta de adquisición de datos ELEC |