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Kérwá
artículo original
Estimation of Silicon Nanocrystalline Sizes from Photoluminescence Measurements of RF Co-Sputtered Si/SiO2 Films
द्वारा Ramírez Porras, Arturo, Fonseca, L. F., Resto, O.
प्रकाशित 2003
संस्थान: Universidad de Costa Rica
Repositorio: Kérwá
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