Reducción de la variabilidad de producto defectuoso en el área de SMT de la empresa General Microcircuits Inc., a través de la metodología DMAMC
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| 著者: | , |
|---|---|
| フォーマット: | proyecto fin de carrera |
| 出版日付: | 2021 |
| その他の書誌記述: | UCR::Docencia::Ingeniería::Facultad de Ingeniería::Escuela de Ingeniería Industrial |
| 国: | Kérwá |
| 機関: | Universidad de Costa Rica |
| Repositorio: | Kérwá |
| OAI Identifier: | oai:kerwa.ucr.ac.cr:10669/94133 |
| オンライン･アクセス: | https://repositorio.sibdi.ucr.ac.cr/handle/123456789/18198 https://hdl.handle.net/10669/94133 |
| キーワード: | CIRCUITOS IMPRESOS - PRODUCCION CONTROL DE CALIDAD CONTROL DE LA PRODUCCION CONTROL DE PROCESOS GESTION INDUSTRIAL - COSTA RICA General Microcircuits, Inc. (Costa Rica) PROCESOS DE MANUFACTURA SEIS SIGMA (CONTROL DE CALIDAD ESTANDAR) |