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Ramírez Porras, A. (2005). Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz.

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Ramírez Porras, Arturo. Aplicación Del Análisis De Ruido Flicker Para La Optimización Estructural Del Silicio Poroso Como Material Básico En La Producción De Nuevos Sensores Y Diodos Emisores De Luz. 2005.

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Ramírez Porras, Arturo. Aplicación Del Análisis De Ruido Flicker Para La Optimización Estructural Del Silicio Poroso Como Material Básico En La Producción De Nuevos Sensores Y Diodos Emisores De Luz. 2005.