Ramírez Porras, A. (2005). Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz.
استشهاد بنمط شيكاغوRamírez Porras, Arturo. Aplicación Del Análisis De Ruido Flicker Para La Optimización Estructural Del Silicio Poroso Como Material Básico En La Producción De Nuevos Sensores Y Diodos Emisores De Luz. 2005.
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