Ramírez Porras, A. (2005). Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz.
Citación estilo ChicagoRamírez Porras, Arturo. Aplicación Del Análisis De Ruido Flicker Para La Optimización Estructural Del Silicio Poroso Como Material Básico En La Producción De Nuevos Sensores Y Diodos Emisores De Luz. 2005.
Cita MLARamírez Porras, Arturo. Aplicación Del Análisis De Ruido Flicker Para La Optimización Estructural Del Silicio Poroso Como Material Básico En La Producción De Nuevos Sensores Y Diodos Emisores De Luz. 2005.
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