Ramírez-Porras, A. (2011). Nanostructure size determination in N+- type porous silicon bY X-Rya diffractometry and Raman Spectroscopy.
Chicago-tyylinen lähdeviittausRamírez-Porras, A. Nanostructure Size Determination in N+- Type Porous Silicon BY X-Rya Diffractometry and Raman Spectroscopy. 2011.
MLA-viiteRamírez-Porras, A. Nanostructure Size Determination in N+- Type Porous Silicon BY X-Rya Diffractometry and Raman Spectroscopy. 2011.
Varoitus: Nämä viitteet eivät aina ole täysin luotettavia.