Ramírez-Porras, A. (2011). Nanostructure size determination in N+- type porous silicon bY X-Rya diffractometry and Raman Spectroscopy.
Styl cytowania ChicagoRamírez-Porras, A. Nanostructure Size Determination in N+- Type Porous Silicon BY X-Rya Diffractometry and Raman Spectroscopy. 2011.
Styl cytowania MLARamírez-Porras, A. Nanostructure Size Determination in N+- Type Porous Silicon BY X-Rya Diffractometry and Raman Spectroscopy. 2011.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..