Automatización del Proceso de Verificación y Calibración de Equipos de Medición de Resistencias de Alto y Bajo Valor

 

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書目詳細資料
作者: Ureña Nassar, Víctor
格式: proyecto fin de carrera
Fecha de Publicación:2012
實物特徵:Proyecto de Graduación (Licenciatura en Ingeniería Electrónica) Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ingeniería Electrónica, 2012.
País:RepositorioTEC
機構:Instituto Tecnológico de Costa Rica
Repositorio:RepositorioTEC
OAI Identifier:oai:repositoriotec.tec.ac.cr:2238/3069
在線閱讀:https://hdl.handle.net/2238/3069
Palabra clave:Metrología
Variables eléctricas
Medidores de resistencia
Sistemas automatizados
Microprocesadores