Desarrollo de un patrón de potencia, aplicando un muestreo dual de tensión y corriente.
Enregistré dans:
| Auteur: | |
|---|---|
| Format: | proyecto fin de carrera |
| Date de publication: | 2008 |
| Description: | Proyecto de Graduación (Licenciatura en Ingeniería Electrónica). Instituto Tecnológico de Costa Rica. Escuela de Ingeniería Electrónica, 2008. |
| Pays: | RepositorioTEC |
| Institution: | Instituto Tecnológico de Costa Rica |
| Repositorio: | RepositorioTEC |
| OAI Identifier: | oai:repositoriotec.tec.ac.cr:2238/2655 |
| Accès en ligne: | https://hdl.handle.net/2238/2655 |
| Mots-clés: | Muestreo Algoritmo de Swerlein Velocidad de muestreo Potencia Energía Energía eléctrica Calibración Costa Rica |