Desarrollo de un patrón de potencia, aplicando un muestreo dual de tensión y corriente.
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| Auteur: | |
|---|---|
| Formaat: | proyecto fin de carrera |
| Publicatiedatum: | 2008 |
| Omschrijving: | Proyecto de Graduación (Licenciatura en Ingeniería Electrónica). Instituto Tecnológico de Costa Rica. Escuela de Ingeniería Electrónica, 2008. |
| Land: | RepositorioTEC |
| Instelling: | Instituto Tecnológico de Costa Rica |
| Repositorio: | RepositorioTEC |
| OAI Identifier: | oai:repositoriotec.tec.ac.cr:2238/2655 |
| Online toegang: | https://hdl.handle.net/2238/2655 |
| Keyword: | Muestreo Algoritmo de Swerlein Velocidad de muestreo Potencia Energía Energía eléctrica Calibración Costa Rica |