Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico

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書誌詳細
著者:	Delgado Jiménez, Lilliana, Chacón-Vargas, Sofía, Sabater-Piqueres, Carlos, Sáenz-Arce, Giovanni
フォーマット:	artículo
出版日付:	2019
その他の書誌記述:	Uno de los grandes avances en la nanotecnología fue el desarrollo del microscopio de efecto túnel, herramienta que ha permitido poder manipular átomos, moléculas, estudiar el transporte electrónico en un solo átomo e incluso la obtención de imágenes con precisión atómica en superficies eléctricamente conductoras. En este artículo describimos el microscopio de efecto túnel, su funcionamiento, una metodología de calibración y cómo medir topografía de superficies planas con una resolución atómica en condiciones ambiente. Todo ello desde un punto de vista didáctico para los nuevos usuarios o investigadores no familiarizados con la técnica. Dependiendo del tipo de medida y calibración, se usaron dos tipos de muestras conductoras, el oro orientado en la dirección cristalográfica (111) y el grafito pirolítico altamente orientado (HOPG).
国:	Repositorio UNA
機関:	Universidad Nacional de Costa Rica
Repositorio:	Repositorio UNA
言語:	Español
OAI Identifier:	oai:null:11056/22124
オンライン･アクセス:	http://hdl.handle.net/11056/22124
キーワード:	MICROSCOPIOS CALIBRACION TOPOGRAFIA