Medidas topográficas en superficies atómicamente planas en condiciones ambiente mediante un microscopio de efecto túnel, un enfoque didáctico
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| Định dạng: | artículo |
| Ngày xuất bản: | 2019 |
| Miêu tả: | Uno de los grandes avances en la nanotecnología fue el desarrollo del microscopio de efecto túnel, herramienta que ha permitido poder manipular átomos, moléculas, estudiar el transporte electrónico en un solo átomo e incluso la obtención de imágenes con precisión atómica en superficies eléctricamente conductoras. En este artículo describimos el microscopio de efecto túnel, su funcionamiento, una metodología de calibración y cómo medir topografía de superficies planas con una resolución atómica en condiciones ambiente. Todo ello desde un punto de vista didáctico para los nuevos usuarios o investigadores no familiarizados con la técnica. Dependiendo del tipo de medida y calibración, se usaron dos tipos de muestras conductoras, el oro orientado en la dirección cristalográfica (111) y el grafito pirolítico altamente orientado (HOPG). |
| Quốc gia: | Repositorio UNA |
| Tổ chức giáo dục: | Universidad Nacional de Costa Rica |
| Repositorio: | Repositorio UNA |
| Ngôn ngữ: | Español |
| OAI Identifier: | oai:null:11056/22124 |
| Truy cập trực tuyến: | http://hdl.handle.net/11056/22124 |
| Từ khóa: | MICROSCOPIOS CALIBRACION TOPOGRAFIA |