Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz
Guardado en:
| Autor: | |
|---|---|
| Formato: | tesis de maestría |
| Fecha de Publicación: | 2005 |
| Descripción: | Tesis (magíster scientiae en sistemas digitales)--Universidad de Costa Rica. Sistema de Estudios de Posgrado, 2005. |
| País: | Kérwá |
| Institución: | Universidad de Costa Rica |
| Repositorio: | Kérwá |
| OAI Identifier: | oai:kerwa.ucr.ac.cr:10669/320 |
| Acceso en línea: | https://hdl.handle.net/10669/320 |
| Palabra clave: | Silicio Silicio poroso Ruido Flicker Análisis de señales |