Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz

 

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Библиографические подробности
Автор: Ramírez Porras, Arturo
Формат: tesis de maestría
Дата публикации:2005
Описание:Tesis (magíster scientiae en sistemas digitales)--Universidad de Costa Rica. Sistema de Estudios de Posgrado, 2005.
Страна:Kérwá
Институт:Universidad de Costa Rica
Repositorio:Kérwá
OAI Identifier:oai:kerwa.ucr.ac.cr:10669/320
Online-ссылка:https://hdl.handle.net/10669/320
Access Level:acceso abierto
Ключевое слово:Silicio
Silicio poroso
Ruido Flicker
Análisis de señales