Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz
Сохранить в:
Автор: | |
---|---|
Формат: | tesis de maestría |
Дата публикации: | 2005 |
Описание: | Tesis (magíster scientiae en sistemas digitales)--Universidad de Costa Rica. Sistema de Estudios de Posgrado, 2005. |
Страна: | Kérwá |
Институт: | Universidad de Costa Rica |
Repositorio: | Kérwá |
OAI Identifier: | oai:kerwa.ucr.ac.cr:10669/320 |
Online-ссылка: | https://hdl.handle.net/10669/320 |
Access Level: | acceso abierto |
Ключевое слово: | Silicio Silicio poroso Ruido Flicker Análisis de señales |