Sistema automatizado de medición del espesor de flux en el ensamble de microprocesadores.

 

Wedi'i Gadw mewn:
Manylion Llyfryddiaeth
Awdur: Benavides-Rojas, Jose Ignacio
Fformat: proyecto fin de carrera
Dyddiad Cyhoeddi:2006
Disgrifiad:Proyecto de Graduación (Licenciatura en Ingeniería Electrónica) Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ingeniería Electrónica, 2006.
Gwlad:RepositorioTEC
Sefydliad:Instituto Tecnológico de Costa Rica
Repositorio:RepositorioTEC
OAI Identifier:oai:repositoriotec.tec.ac.cr:2238/287
Mynediad Ar-lein:https://hdl.handle.net/2238/287
Allweddair:Automatización
Interfaz gráfica
Código de barras
Potencia
Bases de datos
Amplificadores operacionales
Medición de espesor
GPBI
Control de posición
Motores
Potenciómetro
Labview
Tarjeta de adquisición de datos
ELEC