Sistema automatizado de medición del espesor de flux en el ensamble de microprocesadores.

 

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Detaylı Bibliyografya
Yazar: Benavides-Rojas, Jose Ignacio
Materyal Türü: proyecto fin de carrera
Yayın Tarihi:2006
Diğer Bilgiler:Proyecto de Graduación (Licenciatura en Ingeniería Electrónica) Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ingeniería Electrónica, 2006.
Ülke:RepositorioTEC
Kurum:Instituto Tecnológico de Costa Rica
Repositorio:RepositorioTEC
OAI Identifier:oai:repositoriotec.tec.ac.cr:2238/287
Online Erişim:https://hdl.handle.net/2238/287
Anahtar Kelime:Automatización
Interfaz gráfica
Código de barras
Potencia
Bases de datos
Amplificadores operacionales
Medición de espesor
GPBI
Control de posición
Motores
Potenciómetro
Labview
Tarjeta de adquisición de datos
ELEC