Evaluación del uso de cadenas de escaneo basadas en latches pulsados y relojes autogenerados en el proceso de prueba de circuitos integrados digitales

 

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר: Rodríguez-Hall, Bernardo Emilio
פורמט: tesis de maestría
Fecha de Publicación:2023
תיאור:Proyecto de Graduación (Maestría en Electrónica) Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ingeniería Electrónica, 2023.
País:RepositorioTEC
מוסד:Instituto Tecnológico de Costa Rica
Repositorio:RepositorioTEC
שפה:Español
OAI Identifier:oai:repositoriotec.tec.ac.cr:2238/14344
גישה מקוונת:https://hdl.handle.net/2238/14344
מילת מפתח:Circuitos integrados
Relojes
Circuitos digitales
Evaluación del uso de cadenas de escaneo
Diseño de escaneo
Clocked scan
Integrated circuits
Clocks
Digital circuits
Evaluation of the use of scan chains
Scan design
Research Subject Categories::TECHNOLOGY::Electrical engineering, electronics and photonics

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