Evaluación del uso de cadenas de escaneo basadas en latches pulsados y relojes autogenerados en el proceso de prueba de circuitos integrados digitales

 

Na minha lista:
Detalhes bibliográficos
Autor: Rodríguez-Hall, Bernardo Emilio
Formato: tesis de maestría
Data de Publicação:2023
Descrição:Proyecto de Graduación (Maestría en Electrónica) Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ingeniería Electrónica, 2023.
País:RepositorioTEC
Recursos:Instituto Tecnológico de Costa Rica
Repositorio:RepositorioTEC
Idioma:Español
OAI Identifier:oai:repositoriotec.tec.ac.cr:2238/14344
Acesso em linha:https://hdl.handle.net/2238/14344
Palavra-chave:Circuitos integrados
Relojes
Circuitos digitales
Evaluación del uso de cadenas de escaneo
Diseño de escaneo
Clocked scan
Integrated circuits
Clocks
Digital circuits
Evaluation of the use of scan chains
Scan design
Research Subject Categories::TECHNOLOGY::Electrical engineering, electronics and photonics