Rodríguez-Hall, B. E. (2023). Evaluación del uso de cadenas de escaneo basadas en latches pulsados y relojes autogenerados en el proceso de prueba de circuitos integrados digitales.
Trích dẫn kiểu ChicagoRodríguez-Hall, Bernardo Emilio. Evaluación Del Uso De Cadenas De Escaneo Basadas En Latches Pulsados Y Relojes Autogenerados En El Proceso De Prueba De Circuitos Integrados Digitales. 2023.
Trích dẫn MLARodríguez-Hall, Bernardo Emilio. Evaluación Del Uso De Cadenas De Escaneo Basadas En Latches Pulsados Y Relojes Autogenerados En El Proceso De Prueba De Circuitos Integrados Digitales. 2023.
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