Evaluación del uso de cadenas de escaneo basadas en latches pulsados y relojes autogenerados en el proceso de prueba de circuitos integrados digitales
Đã lưu trong:
| Tác giả: | |
|---|---|
| Định dạng: | tesis de maestría |
| Ngày xuất bản: | 2023 |
| Miêu tả: | Proyecto de Graduación (Maestría en Electrónica) Instituto Tecnológico de Costa Rica, Escuela de Ingeniería Electrónica, 2023. |
| Quốc gia: | RepositorioTEC |
| Tổ chức giáo dục: | Instituto Tecnológico de Costa Rica |
| Repositorio: | RepositorioTEC |
| Ngôn ngữ: | Español |
| OAI Identifier: | oai:repositoriotec.tec.ac.cr:2238/14344 |
| Truy cập trực tuyến: | https://hdl.handle.net/2238/14344 |
| Từ khóa: | Circuitos integrados Relojes Circuitos digitales Evaluación del uso de cadenas de escaneo Diseño de escaneo Clocked scan Integrated circuits Clocks Digital circuits Evaluation of the use of scan chains Scan design Research Subject Categories::TECHNOLOGY::Electrical engineering, electronics and photonics |