Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz

 

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التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف: Ramírez Porras, Arturo
التنسيق: tesis de maestría
تاريخ النشر:2005
الوصف:UCR::Investigación::Sistema de Estudios de Posgrado::Ingeniería::Maestría Académica en Ingeniería Eléctrica con énfasis en Sistemas Digitales
البلد:Kérwá
المؤسسة:Universidad de Costa Rica
Repositorio:Kérwá
OAI Identifier:oai:kerwa.ucr.ac.cr:10669/99066
الوصول للمادة أونلاين:https://repositorio.sibdi.ucr.ac.cr/handle/123456789/1091
https://hdl.handle.net/10669/99066
كلمة مفتاحية:OPTOELECTRONICA - INVESTIGACIONES
SILICIO - PROPIEDADES ELECTRICAS
DIODOS EMISORES DE LUZ
DISPOSITIVOS ELECTROOPTICOS

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