Aplicación del análisis de ruido flicker para la optimización estructural del silicio poroso como material básico en la producción de nuevos sensores y diodos emisores de luz
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| 作者: | |
|---|---|
| 格式: | tesis de maestría |
| Fecha de Publicación: | 2005 |
| 实物特征: | UCR::Investigación::Sistema de Estudios de Posgrado::Ingeniería::Maestría Académica en Ingeniería Eléctrica con énfasis en Sistemas Digitales |
| País: | Kérwá |
| 机构: | Universidad de Costa Rica |
| Repositorio: | Kérwá |
| OAI Identifier: | oai:kerwa.ucr.ac.cr:10669/99066 |
| 在线阅读: | https://repositorio.sibdi.ucr.ac.cr/handle/123456789/1091 https://hdl.handle.net/10669/99066 |
| Palabra clave: | OPTOELECTRONICA - INVESTIGACIONES SILICIO - PROPIEDADES ELECTRICAS DIODOS EMISORES DE LUZ DISPOSITIVOS ELECTROOPTICOS |